日本電子顕微鏡学会関東支部/編 -- 朝倉書店 -- 1991.12 --

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中央 書庫 一般図書 /5358/3020/91 1124728903 Digital BookShelf
1992/01/20 可能(館内閲覧) 利用可   0
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ISBN 4-254-20053-6
タイトル 先端材料評価のための電子顕微鏡技法
タイトルカナ センタン ザイリョウ ヒョウカ ノ タメ ノ デンシ ケンビキョウ ギホウ
著者名 日本電子顕微鏡学会関東支部 /編
著者名典拠番号

210000038180000

出版地 東京
出版者 朝倉書店
出版者カナ アサクラ ショテン
出版年 1991.12
ページ数 382p
大きさ 27cm
価格 ¥16000
内容紹介 基礎技術編 1.構造解析法 2.分析技法 3.特殊観察法 4.試料作製法 5.画像記録・処理 応用編 1.セラミックス 2.半導体 3.イオン結晶 4.金属 5.有機高分子 6.無機材料
一般件名 電子顕微鏡 , 材料試験
一般件名カナ デンシ ケンビキョウ,ザイリョウ シケン
一般件名典拠番号

511215300000000 , 510837500000000

分類:都立NDC10版 549.97
資料情報1 『先端材料評価のための電子顕微鏡技法』 日本電子顕微鏡学会関東支部/編  朝倉書店 1991.12(所蔵館:中央  請求記号:/5358/3020/91  資料コード:1124728903)
URL https://catalog.library.metro.tokyo.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?lang=ja&bibid=1101845648