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[ 和図書 ] JTAGテストの基礎と応用 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例 ( I/F essence )

坂巻 佳寿美／著 -- CQ出版 -- 1998.12 --

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所蔵館 所蔵場所 資料区分 請求記号 資料コード 所蔵状態 資料の利用
配架日 協力貸出 利用状況 返却予定日 資料取扱 予約数 付録注記 備考
中央 書庫 一般図書 /5491/3201/98 1128692139 Digital BookShelf
1998/12/11 可能 利用可   0

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ISBN 4-7898-3682-7
タイトル JTAGテストの基礎と応用
タイトルカナ ジェータグ テスト ノ キソ ト オウヨウ
タイトル関連情報 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例
タイトル関連情報読み シンジダイ ノ デンシ カイロ キバン ノ テスト シュホウ ト サマザマ ナ オウヨウ ジレイ
著者名 坂巻 佳寿美 ／著
著者名典拠番号

110000442450000

出版地 東京
出版者 CQ出版
出版者カナ シーキュー シュッパン
出版年 1998.12
ページ数 182p
大きさ 21cm
シリーズ名 I/F essence
シリーズ名のルビ等 アイエフ エッセンス
価格 ¥1800
内容紹介 比較的身近になったJTAG対応デバイスを実際に使用し、テスト対象ハードウェアを自作する手順やパソコンのプリンタポートを利用したTAP制御プログラムについてC言語で紹介する。
一般件名 集積回路
一般件名カナ シュウセキ カイロ
一般件名典拠番号

510919900000000

分類：都立NDC10版 549.7
資料情報1 『JTAGテストの基礎と応用 新時代の電子回路基板のテスト手法とさまざまな応用事例』（I/F essence）　坂巻 佳寿美／著 　CQ出版　1998.12（所蔵館：中央　 請求記号：/5491/3201/98　 資料コード：1128692139）
URL https://catalog.library.metro.tokyo.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?lang=ja&bibid=1102598355

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