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[ 和図書 ] 二次イオン質量分析法 ( 表面分析技術選書 )

-- 丸善 -- 1999.7 --

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所蔵館 所蔵場所 資料区分 請求記号 資料コード 所蔵状態 資料の利用
配架日 協力貸出 利用状況 返却予定日 資料取扱 予約数 付録注記 備考
中央 書庫 一般図書 /4330/3055/99 1128899112 Digital BookShelf
1999/07/23 可能 利用可   0

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ISBN 4-621-04623-3
タイトル 二次イオン質量分析法
タイトルカナ ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ
出版地 東京
出版者 丸善
出版者カナ マルゼン
出版年 1999.7
ページ数 195p
大きさ 21cm
シリーズ名 表面分析技術選書
シリーズ名のルビ等 ヒョウメン ブンセキ ギジュツ センショ
シリーズの編者等 日本表面科学会／編
シリーズの編者等の典拠番号

210000039020000

価格 ¥3600
内容紹介 現場の分析実務技術者、材料及び各種機能デバイスの開発に従事している技術者を対象とした、表面分析法として位置づけが明確になっているSIMS(二次イオン質量分析法)の実用書。
一般件名 質量分析,イオンビ-ム
一般件名カナ シツリョウブンセキ,イオンビ-ム
一般件名 表面(工学) , イオンビーム , 質量分析
一般件名カナ ヒョウメン(コウガク),イオン ビーム,シツリョウ ブンセキ
一般件名典拠番号

511331800000000 , 510101200000000 , 510895700000000

分類：都立NDC10版 428.4
資料情報1 『二次イオン質量分析法』（表面分析技術選書） 　丸善　1999.7（所蔵館：中央　 請求記号：/4330/3055/99　 資料コード：1128899112）
URL https://catalog.library.metro.tokyo.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?lang=ja&bibid=1102689571

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