合志 陽一/監修 -- アグネ技術センター -- 2002.3 -- 改訂

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所蔵館 所蔵場所 資料区分 請求記号 資料コード 所蔵状態 資料の利用
配架日 協力貸出 利用状況 返却予定日 資料取扱 予約数 付録注記 備考
中央 書庫 一般図書 /433.5/5003/2002 5004707400 Digital BookShelf
2002/09/24 可能 利用可   0

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ISBN 4-900041-95-5
タイトル X線分析最前線
タイトルカナ エックスセン ブンセキ サイゼンセン
著者名 合志 陽一 /監修, 佐藤 公隆 /編集
著者名典拠番号

110000383300000 , 110001151730000

版表示 改訂
出版地 東京
出版者 アグネ技術センター
出版者カナ アグネ ギジュツ センター
出版年 2002.3
ページ数 386p
大きさ 21cm
価格 ¥5000
内容紹介 概要、各手法の特徴と使い分け、PIXEや全反射蛍光X線などの先端的方法、薄膜・半導体やユニークな物質への応用例など、X線分析の最前線の情報を網羅する。98年刊の改訂版。
書誌・年譜・年表 X線分析100年略年表 木村正雄作成:p375〜376
一般件名 エックス線分光分析
一般件名カナ エックスセンブンコウブンセキ
一般件名 エックス線分光分析
一般件名カナ エックスセン ブンコウ ブンセキ
一般件名典拠番号

510121500000000

分類:都立NDC10版 433.57
資料情報1 『X線分析最前線』改訂 合志 陽一/監修, 佐藤 公隆/編集  アグネ技術センター 2002.3(所蔵館:中央  請求記号:/433.5/5003/2002  資料コード:5004707400)
URL https://catalog.library.metro.tokyo.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?lang=ja&bibid=1105558349