平坂 雅男/共編 -- アグネ承風社 -- 2002.9 --

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中央 書庫 一般図書 /501.5/5007/2002 5005154386 Digital BookShelf
2002/10/29 可能 利用可   0
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ISBN 4-900508-74-8
タイトル 電子顕微鏡研究者のためのFIB・イオンミリング技法Q&A
タイトルカナ デンシ ケンビキョウ ケンキュウシャ ノ タメ ノ エフアイビー イオン ミリング ギホウ キュー アンド エー
タイトル関連情報 ナノテクノロジーの推進役
タイトル関連情報読み ナノテクノロジー ノ スイシンヤク
著者名 平坂 雅男 /共編, 朝倉 健太郎 /共編
著者名典拠番号

110003848420000 , 110001544220000

出版地 東京
出版者 アグネ承風社
出版者カナ アグネ ショウフウシャ
出版年 2002.9
ページ数 208p
大きさ 26cm
価格 ¥7000
内容紹介 FIBやイオンミリング技法の情報を渇望する声に応えて、実際に電子顕微鏡に携わる研究者や技術者から疑問点を抽出し、Q&A形式で技術情報をまとめたもの。基礎から応用まで網羅し、現場で役立つ参考書。
一般件名 非破壊検査,電子顕微鏡,イオンビ-ム
一般件名カナ ヒハカイケンサ,デンシケンビキョウ,イオンビ-ム
一般件名 非破壊検査 , 電子顕微鏡 , イオンビーム
一般件名カナ ヒハカイ ケンサ,デンシ ケンビキョウ,イオン ビーム
一般件名典拠番号

511322900000000 , 511215300000000 , 510101200000000

分類:都立NDC10版 501.55
資料情報1 『電子顕微鏡研究者のためのFIB・イオンミリング技法Q&A ナノテクノロジーの推進役』 平坂 雅男/共編, 朝倉 健太郎/共編  アグネ承風社 2002.9(所蔵館:中央  請求記号:/501.5/5007/2002  資料コード:5005154386)
URL https://catalog.library.metro.tokyo.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?lang=ja&bibid=1105683288