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[ 和図書 ] 材料開発のための顕微鏡法と応用写真集

日本金属学会／編集 -- 日本金属学会 -- 2006.3 --

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所蔵は 2 件です。

所蔵館 所蔵場所 資料区分 請求記号 資料コード 所蔵状態 資料の利用
配架日 協力貸出 利用状況 返却予定日 資料取扱 予約数 付録注記 備考
中央 書庫 一般図書 D/501.4/5093/2006 5012865225 Digital BookShelf
2006/11/01 可能 利用可   0 別組付録有
中央 書庫 一般図書 D/501.4/5093/2006-2 5012867168 Digital BookShelf
2006/11/01 可能 利用可   0 別組付録

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ISBN 4-88903-074-3
タイトル 材料開発のための顕微鏡法と応用写真集
タイトルカナ ザイリョウ カイハツ ノ タメ ノ ケンビキョウホウ ト オウヨウ シャシンシュウ
著者名 日本金属学会 ／編集
著者名典拠番号

210000030270000

資料種別 複合媒体資料
都立資料種別 複合媒体資料
並列タイトル Practical Microscopy Techniques for Materials Development
出版地 仙台,[東京]
出版者 日本金属学会,丸善(発売)
出版者カナ ニホン キンゾク ガッカイ
出版年 2006.3
ページ数 17, 272p
大きさ 30cm
付属資料 CD-ROM(1枚 12cm)
付属資料 CD-ROM1枚(12cm):透過電子顕微鏡用薄膜試料作製手法一覧
価格 ¥10000
内容注記 高分解能TEM観察法 田中信夫∥著. 高分解能STEM解析 及川哲夫∥ほか著. 磁気組織・構造観察(ローレンツ顕微鏡法,電子線ホログラフィ) 丹司敬義∥著. 半導体・デバイスの欠陥解析 上野武夫∥著. EBSP法による方位組織解析 池田賢一∥著, 中島英治∥著. 低エネルギーSEMによる表面・微細組織観察 佐藤馨∥ほか著. 共焦点走査型レーザ顕微鏡を用いた材料の高温プロセスの直接観察 柴田浩幸∥著. 走査プローブ顕微鏡による金属組織の観察 早川正夫∥著, 松岡三郎∥著. 走査イオン顕微鏡を活用したその場観察手法 重里元一∥ほか著. 鉄鋼の相変態組織における格子欠陥の透過型電子顕微鏡観察 古原忠∥著. マグネシウム合金の透過電子顕微鏡組織 池野進∥ほか著. セラミックス組織観察(TEM) 幾原雄一∥著. 球状黒鉛鋳鉄の黒鉛微視構造 五十嵐芳夫∥著. 化合物半導体の欠陥組織観察 桑野範之∥著. 鉛フリーはんだ付け界面の反応と組織 菅沼克昭∥著. 応用写真論文. 材料薄膜化のための化学・電気化学的手法 小林千悟∥ほか著
内容紹介 先進材料開発に今後重要となるいくつかの先端顕微鏡観察・解析法の解説、および実用材料観察・解析の実践的解説を掲載し、種々の材料中の微細組織・構造の代表的顕微鏡写真を例示する。
一般件名 非破壊検査,電子顕微鏡
一般件名カナ ヒハカイケンサ,デンシケンビキョウ
一般件名 工業材料 , 電子顕微鏡 , 顕微鏡写真
一般件名カナ コウギョウ ザイリョウ,デンシ ケンビキョウ,ケンビキョウ シャシン
一般件名典拠番号

510762000000000 , 511215300000000 , 510725600000000

分類：都立NDC10版 501.4
資料情報1 『材料開発のための顕微鏡法と応用写真集』　日本金属学会／編集 　日本金属学会　2006.3（所蔵館：中央　 請求記号：D/501.4/5093/2006　 資料コード：5012865225）
資料情報2 『材料開発のための顕微鏡法と応用写真集』　日本金属学会／編集 　日本金属学会　2006.3（所蔵館：中央　 請求記号：D/501.4/5093/2006-2　 資料コード：5012867168）
URL https://catalog.library.metro.tokyo.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?lang=ja&bibid=1106820097

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内容 内容ヨミ 著者名 著者名ヨミ ページ
高分解能TEM観察法 コウブンカイノウ　ティーイーエム　カンサツホウ 田中 信夫／著 タナカ　ノブオ １－６
高分解能STEM解析 コウブンカイノウ　エスティーイーエム　カイセキ 及川 哲夫／ほか著 オイカワ　テツオ ７－１２
磁気組織・構造観察(ローレンツ顕微鏡法,電子線ホログラフィ) ジキ　ソシキ　コウゾウ　カンサツ　ローレンツ　ケンビキョウホウ　デンシセン　ホログラフィ 丹司 敬義／著 タンジ　タカヨシ １３－１９
半導体・デバイスの欠陥解析 ハンドウタイ　デバイス　ノ　ケッカン　カイセキ 上野 武夫／著 カミノ　タケオ ２０－２６
EBSP法による方位組織解析 イービーエスピーホウ　ニ　ヨル　ホウイ　ソシキ　カイセキ 池田 賢一／著 イケダ　ケンイチ ２７－３１
低エネルギーSEMによる表面・微細組織観察 テイエネルギー　エスイーエム　ニ　ヨル　ヒョウメン　ビサイ　ソシキ　カンサツ 佐藤 馨／ほか著 サトウ　カオル ３２－３６
共焦点走査型レーザ顕微鏡を用いた材料の高温プロセスの直接観察 キョウショウテン　ソウサガタ　レーザ　ケンビキョウ　オ　モチイタ　ザイリョウ　ノ　コウオン　プロセス　ノ　チョクセツ　カンサツ 柴田 浩幸／著 シバタ　ヒロユキ ３７－４０
走査プローブ顕微鏡による金属組織の観察 ソウサ　プローブ　ケンビキョウ　ニ　ヨル　キンゾク　ソシキ　ノ　カンサツ 早川 正夫／著 ハヤカワ　マサオ ４１－４６
走査イオン顕微鏡を活用したその場観察手法 ソウサ　イオン　ケンビキョウ　オ　カツヨウ　シタ　ソノバ　カンサツ　シュホウ 重里 元一／ほか著 シゲサト　ゲンイチ ４７－５４
鉄鋼の相変態組織における格子欠陥の透過型電子顕微鏡観察 テッコウ　ノ　ソウヘンタイ　ソシキ　ニ　オケル　コウシ　ケッカン　ノ　トウカガタ　デンシ　ケンビキョウ　カンサツ 古原 忠／著 フルハラ　タダシ ５５－６１
マグネシウム合金の透過電子顕微鏡組織 マグネシウム　ゴウキン　ノ　トウカ　デンシ　ケンビキョウ　ソシキ 池野 進／ほか著 イケノ　ススム ６２－６６
セラミックス組織観察(TEM) セラミックス　ソシキ　カンサツ　ティーイーエム 幾原 雄一／著 イクハラ　ユウイチ ６７－７３
球状黒鉛鋳鉄の黒鉛微視構造 キュウジョウ　コクエン　チュウテツ　ノ　コクエン　ビシ　コウゾウ 五十嵐 芳夫／著 イガラシ　ヨシオ ７４－８１
化合物半導体の欠陥組織観察 カゴウブツ　ハンドウタイ　ノ　ケッカン　ソシキ　カンサツ 桑野 範之／著 クワノ　ノリユキ ８２－８７
鉛フリーはんだ付け界面の反応と組織 ナマリ　フリー　ハンダズケ　カイメン　ノ　ハンノウ　ト　ソシキ 菅沼 克昭／著 スガヌマ　カツアキ ８８－９６
応用写真論文 オウヨウ　シャシン　ロンブン ９７－２４９
材料薄膜化のための化学・電気化学的手法 ザイリョウ　ハクマクカ　ノ　タメ　ノ　カガク　デンキ　カガクテキ　シュホウ 小林 千悟／ほか著 コバヤシ　センゴ ２６８－２７２

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