二川 清/編著 -- 日科技連出版社 -- 2010.10 --

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中央 書庫 一般図書 /549.7/5080/2010 5019082350 Digital BookShelf
2010/11/18 可能 利用可   0
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ISBN 4-8171-9363-6
ISBN13桁 978-4-8171-9363-6
タイトル LSIの信頼性
タイトルカナ エルエスアイ ノ シンライセイ
著者名 二川 清 /編著, 塩野 登 /著, 横川 慎二 /著, 福田 保裕 /著, 三井 泰裕 /著
著者名典拠番号

110001810130000 , 110005860670000 , 110005635960000 , 110005860680000 , 110005860690000

出版地 東京
出版者 日科技連出版社
出版者カナ ニッカ ギレン シュッパンシャ
出版年 2010.10
ページ数 8, 183p
大きさ 21cm
シリーズ名 信頼性技術叢書
シリーズ名のルビ等 シンライセイ ギジュツ ソウショ
シリーズの編者等 信頼性技術叢書編集委員会/監修
シリーズの編者等の典拠番号

210001233780000

価格 ¥3000
内容紹介 家電、携帯、パソコン、自動車など、生活のあらゆるところで、広く深く使われているLSIの普及を支える信頼性技術の主要な要素技術や手法に焦点をあてて解説。基礎から実際的な応用までを幅広く紹介する。
書誌・年譜・年表 文献:章末
一般件名 大規模集積回路,信頼性(工学)
一般件名カナ ダイキボシュウセキカイロ,シンライセイ(コウガク)
一般件名 集積回路 , 信頼性(工学)
一般件名カナ シュウセキ カイロ,シンライセイ(コウガク)
一般件名典拠番号

510919900000000 , 510992600000000

分類:都立NDC10版 549.7
資料情報1 『LSIの信頼性』(信頼性技術叢書) 二川 清/編著, 塩野 登/著 , 横川 慎二/著 日科技連出版社 2010.10(所蔵館:中央  請求記号:/549.7/5080/2010  資料コード:5019082350)
URL https://catalog.library.metro.tokyo.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?lang=ja&bibid=1108209412