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[ 和図書 ] はじめてのデバイス評価技術

二川 清／著 -- 森北出版 -- 2012.9 -- 第2版

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所蔵館 所蔵場所 資料区分 請求記号 資料コード 所蔵状態 資料の利用
配架日 協力貸出 利用状況 返却予定日 資料取扱 予約数 付録注記 備考
中央 書庫 一般図書 /549.8/5252/2012 7100972550 Digital BookShelf
2012/10/02 可能 利用可   0
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ISBN 4-627-77442-1
ISBN13桁 978-4-627-77442-1
タイトル はじめてのデバイス評価技術
タイトルカナ ハジメテ ノ デバイス ヒョウカ ギジュツ
著者名 二川 清 ／著
著者名典拠番号

110001810130000

版表示 第2版
出版地 東京
出版者 森北出版
出版者カナ モリキタ シュッパン
出版年 2012.9
ページ数 11, 179p
大きさ 22cm
版及び書誌的来歴に関する注記 初版:工業調査会 2000年刊
価格 ¥2400
内容紹介 半導体デバイスのなかでも代表的なシリコン集積回路(IC)を取り上げ、機能・信頼性・故障の評価についてわかりやすくまとめる。具体例・応用事例も紹介。
書誌・年譜・年表 文献:p169～175
一般件名 半導体-ndlsh-00562913
一般件名カナ ハンドウタイ-00562913
一般件名 半導体
一般件名カナ ハンドウタイ
一般件名典拠番号

511311800000000

分類：都立NDC10版 549.8
資料情報1 『はじめてのデバイス評価技術』第2版　二川 清／著 　森北出版　2012.9（所蔵館：中央　 請求記号：/549.8/5252/2012　 資料コード：7100972550）
URL https://catalog.library.metro.tokyo.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?lang=ja&bibid=1152137493

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