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[ 和図書 ] 蛍光X線分析の実際

中井 泉／編集 -- 朝倉書店 -- 2016.7 -- 第2版

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所蔵館 所蔵場所 資料区分 請求記号 資料コード 所蔵状態 資料の利用
配架日 協力貸出 利用状況 返却予定日 資料取扱 予約数 付録注記 備考
中央 2F 一般図書 /433.5/5011/2016 7107699228 配架図 Digital BookShelf
2016/08/12 可能 利用可   0

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ISBN 4-254-14103-0
ISBN13桁 978-4-254-14103-0
タイトル 蛍光X線分析の実際
タイトルカナ ケイコウ エックスセン ブンセキ ノ ジッサイ
著者名 中井 泉 ／編集, 日本分析化学会X線分析研究懇談会 ／監修
著者名典拠番号

110003706500000 , 210000030540000

版表示 第2版
出版地 東京
出版者 朝倉書店
出版者カナ アサクラ ショテン
出版年 2016.7
ページ数 10, 265p
大きさ 26cm
価格 ¥5900
内容紹介 試料調製、標準物質、蛍光X線装置スペクトル、定量分析などの基礎項目を平易に解説。さらに、食品中の有害元素分析、放射性大気粉塵の解析、美術品をはじめ文化財への非破壊分析など、豊富な応用事例も掲載する。
一般件名 エックス線分光分析-ndlsh-00561907
一般件名カナ エックスセンブンコウブンセキ-00561907
一般件名 エックス線分光分析
一般件名カナ エックスセン ブンコウ ブンセキ
一般件名典拠番号

510121500000000

分類：都立NDC10版 433.57
資料情報1 『蛍光X線分析の実際』第2版　中井 泉／編集, 日本分析化学会X線分析研究懇談会／監修 　朝倉書店　2016.7（所蔵館：中央　 請求記号：/433.5/5011/2016　 資料コード：7107699228）
URL https://catalog.library.metro.tokyo.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?lang=ja&bibid=1152851747

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