資料詳細

目次

1 X線結晶学の基礎

  1.1 はじめに

  1.2 結晶構造解析と他の解析法との比較

  1.3 目と顕微鏡の類似性

  1.4 結晶状態の基礎

  1.5 分子および結晶によるX線の回折

  1.6 X線回折の幾何学的条件と対称性

  1.7 回折X線の強度

  1.8 X線源

  1.9 まとめ

2 X線結晶解析の手順

  2.1 はじめに

  2.2 試料の調製と選択

  2.3 回折パターンの測定

  2.4 単位胞の形と対称性の決定

  2.5 強度測定

  2.6 データ整理

  2.7 構造を解く

  2.8 基本構造の完成

  2.9 構造の精密化

3 X線結晶解析の実例

  3.1 はじめに

  3.2 例1:水銀(Ⅱ)チオラート錯体

  3.3 例2:溶媒和したキラルなロジウム錯体

  3.4 例3:キラルな有機化合物の微小結晶

  3.5 例4:金属配位化合物の鎖状ポリマー

  3.6 例5:嵩高い有機リン化合物を配位子に含むパラジウム錯体

  3.7 まとめ

  3.8 演習問題

4 関連する研究ならびに測定法

  4.1 はじめに

  4.2 単結晶中性子回折

  4.3 粉末による回折

  4.4 生体高分子結晶学

  4.5 結晶構造の予測

  4.6 まとめ

  4.7 演習問題

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