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[ 和図書 ] 半導体デバイスの不良・故障解析技術 ( 信頼性技術叢書 )

二川 清／編著 -- 日科技連出版社 -- 2019.12 --

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所蔵館 所蔵場所 資料区分 請求記号 資料コード 所蔵状態 資料の利用
配架日 協力貸出 利用状況 返却予定日 資料取扱 予約数 付録注記 備考
中央 2F 一般図書 /549.8/5354/2019 7112492586 配架図 Digital BookShelf
2020/01/28 可能 利用可   0
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ISBN 4-8171-9685-9
ISBN13桁 978-4-8171-9685-9
タイトル 半導体デバイスの不良・故障解析技術
タイトルカナ ハンドウタイ デバイス ノ フリョウ コショウ カイセキ ギジュツ
著者名 二川 清 ／編著, 上田 修 ／著, 山本 秀和 ／著
著者名典拠番号

110001810130000 , 110007629430000 , 110006121850000

出版地 東京
出版者 日科技連出版社
出版者カナ ニッカ ギレン シュッパンシャ
出版年 2019.12
ページ数 8, 218p
大きさ 21cm
シリーズ名 信頼性技術叢書
シリーズ名のルビ等 シンライセイ ギジュツ ソウショ
シリーズの編者等 信頼性技術叢書編集委員会／監修
シリーズの編者等の典拠番号

210001233780000

価格 ¥3300
内容紹介 半導体デバイスの不良と故障について、基礎から最新情報まで幅広いレベルの内容を解説。それぞれの分野の側面を気軽に知ることができるコラム、「初級信頼性技術者」資格認定試験に出るような5択の演習問題も掲載。
書誌・年譜・年表 文献:章末
一般件名 半導体-品質管理-ndlsh-00908759,信頼性 (工学)-ndlsh-00571098
一般件名カナ ハンドウタイ-ヒンシツカンリ-00908759,シンライセイ (コウガク)-00571098
一般件名 半導体 , 信頼性(工学)
一般件名カナ ハンドウタイ,シンライセイ(コウガク)
一般件名典拠番号

511311800000000 , 510992600000000

分類：都立NDC10版 549.8
資料情報1 『半導体デバイスの不良・故障解析技術』（信頼性技術叢書）　二川 清／編著, 上田 修／著 , 山本 秀和／著　日科技連出版社　2019.12（所蔵館：中央　 請求記号：/549.8/5354/2019　 資料コード：7112492586）
URL https://catalog.library.metro.tokyo.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?lang=ja&bibid=1153480758

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