資料詳細

目次

1章 熱分析

  1.1 はじめに

  1.2 熱測定の基礎

  1.3 熱重量分析(TGA)

  1.4 示差熱分析(DIA)と示差走査熱量測定(DSC)

  1.5 おわりに

2章 試料準備1 固体試料の溶解

  2.1 はじめに

  2.2 器具と試薬

  2.3 試料溶液の調整(分解法)

  2.4 試料溶液の調整(融解法)

  2.5 おわりに

3章 試料準備2 分離操作

  3.1 はじめに

  3.2 液液抽出法

  3.3 固相抽出法

  3.4 共沈法

  3.5 その他の方法

  3.6 おわりに

4章 原子吸光分析法

  4.1 はじめに

  4.2 原理

  4.3 測定可能元素

  4.4 装置の概要

  4.5 測光データの処理

  4.6 共存物質の干渉と抑制

  4.7 分析操作

  4.8 試薬類,器具・環境の汚染対策

  4.9 前処理

5章 誘導結合プラズマ発光分析法(ICP-OES)・質量分析法(ICP-MS)

  5.1 はじめに

  5.2 誘導結合プラズマ(ICP)の特徴

  5.3 ICP発光分析法

  5.4 ICP質量分析法(ICP-MS)

  5.5 測定上の注意-ICP原子スペクトル分析における干渉-

  5.6 おわりに

6章 蛍光X線分析法

  6.1 はじめに

  6.2 蛍光X線の発生

  6.3 蛍光X線分析で何が分かるか

  6.4 蛍光X線分析の特徴

  6.5 蛍光X線の分光方式

  6.6 試料の準備

  6.7 蛍光X線スペクトルの解釈

  6.8 定量分析

  6.9 いくつかのXRF装置の構成と利用例

7章 X線回折法

  7.1 はじめに

  7.2 粉末X線回折測定装置のあらまし

  7.3 粉末X線回折装置の取り扱い方

  7.4 試料の調製

  7.5 結果の解析

8章 X線光電子分光法

  8.1 はじめに

  8.2 XPSの原理

  8.3 XPS装置

  8.4 XPS測定とデータ解析

  8.5 おわりに

9章 光学顕微鏡

  9.1 はじめに

  9.2 金属顕微鏡の構成

  9.3 金属顕微鏡の原理

  9.4 基本の操作法

  9.5 各種観察法の使い方と特徴

  9.6 何が見えるか

  9.7 おわりに

10章 電子顕微鏡(TEM,SEM,EPMA)

  10.1 はじめに

  10.2 透過型電子顕微鏡

  10.3 走査型電子顕微鏡

  10.4 おわりに

11章 プローブ顕微鏡

  11.1 はじめに

  11.2 SPMの原理

  11.3 STMの原理

  11.4 AFMの原理

  11.5 カンチレバーの特性

  11.6 フォースカーブ測定

  11.7 摩擦力顕微鏡(FFM)

  11.8 ダイナミックモード

  11.9 ロックインアンプを用いた応用測定

付録

  付録1 試料溶解に用いられる試薬およびその溶解反応

  付録2 無機元素分析のための各種試料の溶解例

  付録3 特性X線のエネルギー

  付録4 電子の結合エネルギー

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