光永 悠彦/編著 -- ナカニシヤ出版 -- 2022.9 --

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中央 2F 一般図書 /376.8/5243/2022 7116340045 配架図 Digital BookShelf
2023/03/21 可能 利用可   0
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ISBN 4-7795-1683-2
ISBN13桁 978-4-7795-1683-2
タイトル テストは何のためにあるのか
タイトルカナ テスト ワ ナンノ タメ ニ アル ノカ
タイトル関連情報 項目反応理論から入試制度を考える
タイトル関連情報読み コウモク ハンノウ リロン カラ ニュウシ セイド オ カンガエル
著者名 光永 悠彦 /編著, 西田 亜希子 /著
著者名典拠番号

110007134070000 , 110006416330000

出版地 京都
出版者 ナカニシヤ出版
出版者カナ ナカニシヤ シュッパン
出版年 2022.9
ページ数 9, 239p
大きさ 26cm
価格 ¥3300
内容紹介 大学受験における共通テストを年複数回行う制度を実現することは可能か、その社会的意義は何かを徹底的に検討。テストと教育のあるべき関係について議論し、これからの大学入試制度を設計するために必要な視点を示す。
書誌・年譜・年表 文献:p233~237
一般件名 入学試験(大学)
一般件名カナ ニュウガク シケン(ダイガク)
一般件名典拠番号

511266300000000

分類:都立NDC10版 376.87
資料情報1 『テストは何のためにあるのか 項目反応理論から入試制度を考える』 光永 悠彦/編著, 西田 亜希子/著  ナカニシヤ出版 2022.9(所蔵館:中央  請求記号:/376.8/5243/2022  資料コード:7116340045)
URL https://catalog.library.metro.tokyo.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?lang=ja&bibid=1154083136

目次 閉じる

第1部 共通入試のあるべき姿:これからの入試の仕組み,教育の仕組み
  第1章 メリトクラシーと日本の入試
  第2章 共通テストのあり方:その模索の方向性
  第3章 社会とテストのあるべき関係性:社会はテストで何をしたいのか
  第4章 「標準化テスト」を導入する:教育者・受験者からみたメリットと課題
第2部 標準化テストを実現するために:IRTができること
  第5章 テストとは何か:測定の道具としてのテスト
  第6章 標準化テストによる公平なテストを実現する要件:共通尺度化
  第7章 項目反応理論(IRT)による標準化テスト
  第8章 テスト制度とテストデザイン,テストの質保証
  第9章 パフォーマンステストと標準化テスト
  第10章 学習とテストの融合:教育を充実させるためのさまざまな工夫
第3部 IRTを用いた標準化テストを入試で活用する
  第11章 日本における大学入試と共通テストに求められる前提条件
  第12章 IRTを複数回共通入試に導入する(1):テスト制度の構築
  第13章 IRTを複数回共通入試に導入する(2):テストデザイン
  第14章 IRTによる標準化共通テストにパフォーマンステストを含める
  第15章 日本の入試に関する常識を疑う
  第16章 英語4技能入試の導入はなぜ頓挫したか