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[ 和図書 ] 何のためのテスト? 評価で変わる学校と学び

ケネス・J.ガーゲン／著 -- ナカニシヤ出版 -- 2023.3 --

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所蔵館 所蔵場所 資料区分 請求記号 資料コード 所蔵状態 資料の利用
配架日 協力貸出 利用状況 返却予定日 資料取扱 予約数 付録注記 備考
中央 2F 一般図書 /371.7/5059/2023 7116351746 配架図 Digital BookShelf
2023/03/10 可能 利用可   0
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ISBN 4-7795-1704-4
ISBN13桁 978-4-7795-1704-4
タイトル 何のためのテスト?
タイトルカナ ナンノ タメ ノ テスト
タイトル関連情報 評価で変わる学校と学び
タイトル関連情報読み ヒョウカ デ カワル ガッコウ ト マナビ
著者名 ケネス・J.ガーゲン ／著, シェルト・R.ギル ／著, 東村 知子 ／訳, 鮫島 輝美 ／訳
著者名典拠番号

120000105660000 , 120003118590000 , 110004263090000 , 110007390160000

出版地 京都
出版者 ナカニシヤ出版
出版者カナ ナカニシヤ シュッパン
出版年 2023.3
ページ数 8,223p
大きさ 21cm
原タイトル注記 原タイトル:Beyond the tyranny of testing
価格 ¥2500
内容紹介 そのテスト、本当に必要ですか? 社会構成主義の第一人者と教育学者が、これまで教育の変革の大きな障壁となってきた評価のあり方を徹底的に検証し、その代替案を示す。
一般件名 教育評価
一般件名カナ キョウイク ヒョウカ
一般件名典拠番号

510665900000000

分類：都立NDC10版 371.7
資料情報1 『何のためのテスト? 評価で変わる学校と学び』　ケネス・J.ガーゲン／著, シェルト・R.ギル／著 , 東村 知子／訳　ナカニシヤ出版　2023.3（所蔵館：中央　 請求記号：/371.7/5059/2023　 資料コード：7116351746）
URL https://catalog.library.metro.tokyo.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?lang=ja&bibid=1154135236

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