| ISBN |
4-621-31135-6
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| ISBN13桁 |
978-4-621-31135-6
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| タイトル |
二次イオン質量分析法
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| タイトルカナ |
ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ
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| 版表示 |
第2版
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| 出版地 |
東京
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| 出版者 |
丸善出版
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| 出版者カナ |
マルゼン シュッパン
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| 出版年 |
2025.5
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| ページ数 |
9, 226p
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| 大きさ |
21cm
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| シリーズ名 |
表面分析技術選書
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| シリーズ名のルビ等 |
ヒョウメン ブンセキ ギジュツ センショ
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| シリーズの編者等 |
日本表面真空学会／編
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| シリーズの編者等の典拠番号 |
210001625720000
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| 版及び書誌的来歴に関する注記 |
初版:丸善 1999年刊
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| 価格 |
¥4000
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| 内容紹介 |
多くの研究分野で活用されている二次イオン質量分析法(SIMS)。その原理と基礎から、SIMSによる測定の実際、目的別の応用例までを解説する。SIMSの全貌を見通せるテキスト。
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| 一般件名 |
表面(工学)
,
イオンビーム
,
質量分析
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| 一般件名カナ |
ヒョウメン(コウガク),イオン ビーム,シツリョウ ブンセキ
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| 一般件名典拠番号 |
511331800000000
,
510101200000000
,
510895700000000
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| 分類：都立NDC10版 |
428.4
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| テキストの言語 |
日本語
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| 資料情報1 |
『二次イオン質量分析法』（表面分析技術選書）第2版
丸善出版 2025.5（所蔵館：中央
請求記号：/428.4/5091/2025
資料コード：7119244810）
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| URL |
https://catalog.library.metro.tokyo.lg.jp/winj/opac/switch-detail.do?lang=ja&bibid=1154821615 |
