目次

第8章 フィードバック

  8.1 概論

  8.2 フィードバックの形式

  8.3 雑音に対する帰還の効果

  8.4 フィードバック解析の難しさ

  8.5 負荷の影響

  8.6 フィードバック回路のBode'sの解析

  8.7 Middlebrookの方法

  8.8 ループ利得の計算の問題

  8.9 Bode法の他の解釈

第9章 オペアンプ

  9.1 一般的な考察

  9.2 1段オペアンプ(one‐stage opamps)

  9.3 2段オペアンプ

  9.4 ゲインブースト

  9.5 比較

  9.6 出力振幅の計算

  9.7 コモンモードフィードバック

  9.8 入力動作範囲の制限

  9.9 スルーレート

第10章 安定性と周波数補償

  10.1 概論

  10.2 複数の極を有するシステム

  10.3 位相余裕

  10.4 基本的な周波数補償

  10.5 2段オペアンプの補償

  10.6 2段オペアンプ出力の立ち上がり/立ち下り(大振幅動作)特性

  10.7 他の補償手法

  10.8 ナイキストの安定判別法

  文献

第11章 ナノメートルプロセス技術における設計

  11.1 トランジスタ設計における検討事項

  11.2 ディープサブマイクロン効果

  11.3 トランスコンダクタンスの変化

  11.4 トランジスタ設計

  11.5 オペアンプの設計例

  11.6 高速アンプ

  11.7 まとめ

  問題

第12章 バンドギャップレファレンス

  12.1 一般的考察

  12.2 電源電圧に依存しないバイアス手法

  12.3 温度に依存しないレファレンス回路

  12.4 PTAT電流の生成

  12.5 gm一定のバイアス手法

  12.6 速度と雑音の問題

  12.7 低電圧バンドギャップレファレンス

  12.8 ケーススタディ

  文献

第13章 スイッチトキャパシタ回路

  13.1 概論

  13.2 サンプリングスイッチ

  13.3 スイッチトキャパシタ増幅器

  13.4 スイッチトキャパシタ(SC)積分器

  13.5 スイッチトキャパシタによるコモンモードフィードバック

  文献

  問題

第14章 非線形性とミスマッチ

  14.1 非線形性

  14.2 ミスマッチ

  文献

  問題

第15章 発振器

  15.1 概論

  15.2 リング発振器

  15.3 LC発振器

  15.4 電圧制御発振器(VCO)

  15.5 VCOの数学的モデル

  文献

  問題

第16章 PLL

  16.1 PLLの基本構成

  16.2 チャージポンプ型PLL

  16.3 PLLへの非理想条件による影響

  16.4 遅延同期ループ

  16.5 適用例

  文献

  問題

第17章 ショートチャネル効果とデバイスモデル

  17.1 スケーリング理論

  17.2 ショートチャネル効果

  17.3 MOSデバイスモデル

  17.4 プロセスコーナーポイント

  文献

  問題

第18章 CMOSプロセス技術

  18.1 概論

  18.2 ウェーハプロセス

  18.3 フォトリソグラフィ

  18.4 酸化

  18.5 イオン注入

  18.6 成膜とエッチング

  18.7 デバイスの製造

  18.8 ラッチアップ

  文献

第19章 レイアウトとパッケージ

  19.1 レイアウトに関する一般的な考察

  19.2 アナログレイアウト技術

  19.3 基板結合

  19.4 パッケージ封止

  文献

  問題

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